12月18日，中国科学院半导体研究所刘岳阳研究员应邀为物理学院师生作题为“晶体管可靠性原子级精度模拟”的学术报告，本次报告由党委副书记刘宁主持，学院相关专业师生共同参加学习。
刘岳阳长期深耕晶体管可靠性物理研究与可靠性工程顶层设计相关研究。现场，他以集成电路可靠性问题为核心，从器件失效的物理机制、温度与时间对器件性能的影响等关键维度展开系统阐释。同时，还结合英特尔等行业龙头企业的实际案例，深入剖析当前集成电路可靠性研究的行业现状与技术瓶颈，让抽象的理论知识与产业实践紧密相连。
报告结束后，刘岳阳就与会师生提出的相关问题给予耐心细致地解答，展开深入交流与讨论。
专家简介：
刘岳阳，中国科学院半导体研究所研究员，国家高层次青年人才，中国科学院高层次青年人才，长期从事晶体管可靠性物理研究和可靠性模拟工具开发，作为负责人承担了国家重点研发计划课题、基金委面上项目、华为合作项目等，以第一或通讯作者发表SCI/EI论文近40篇，包括IEDM、VLSI等集成电路领域国际顶级会议论文，以及Physical Review B/Applied等权威物理期刊论文。
（物理学院 熊子瑞）