低温透射电子显微镜

仪器名称

低温透射电子显微镜

仪器型号

JEM-F200

厂家/国别

日本电子/日本

仪器位置

科技创新港校区生命科学学院1-134室

管理人员

冯贞凯

主要功能

1、可以实现高分辨率的TEM图像观察和电子衍射分析；

2、可以实现高分辨率的STEM BF/DF、BEI图像观察；

3、带有超大面积能谱，能实现高效的能谱元素定性和定量分析，元素点、线、面分布分析；

4、带有Spectport自动进样功能。

性能指标

1、加速电压80 ~ 200KV；

2、点分辨率0.23nm；STEM分辨率0.16nm；BEI分辨率1nm；

3、电子枪：场发射电子枪；

4、TEM、STEM:BF/HAADF/BEI图像获取；电子衍射获取；放大倍率20 ~ 2000000；

5、能谱仪：超大面积双探头，面积200mm²；固体角：1.7srad。

样品要求

杜绝一切磁性材料

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