X射线吸收精细结构谱仪

仪器名称

X射线吸收精细结构谱仪

仪器型号

RapidXAFS 2M

厂家/国别

安徽吸收谱仪器设备有限公司/中国

仪器位置

科技创新港校区生命科学学院1-122室

管理人员

段梦宇

主要功能

X射线吸收精细结构（X-ray Absorption Fine Structure, XAFS）谱仪是一种基于实验室X射线源的先进表征技术，通过精确测量材料对X射线的吸收系数随能量的变化，解析物质的局域原子结构和电子态信息。该技术包含X射线近边吸收谱（XANES）和扩展边吸收谱（EXAFS）两部分，其中XANES可获取吸收原子的电子结构、化学价态及配位对称性，而EXAFS则能精确测定原子间距、配位数及无序度等结构参数。XAFS技术具有元素特异性、高灵敏度和非破坏性等优势，广泛应用于催化材料、电池体系、环境污染物及纳米材料的结构解析。

性能指标

1、能量范围：5-20 keV；

2、谱学能量分辨率：XANES能量分辨率0.5 ~ 1.5 eV，EXAFS能量分辨率3 ~ 10 eV；

3、检测限：1.0%质量分数；

4、XAFS光通量：> 4,000,000 photons/sec@7 ~ 9 KeV；

5、X射线管：采用Mo靶，高压范围10 ~ 40 kV，电流1 ~ 40 mA，最高功率> 1.6 kW。

样品要求

1、样品尽量为粉末，粉末样品需提前研磨至200目左右；

2、样品须先经过ICP测试，确定样品中各元素的质量分数，用来计算得出制样所需样品量；

3、有毒，易燃，挥发的粉末/溶剂禁止送样。

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