| 1．设备名称：铁电分析仪 | |||
| 2．型号：Multiferroic Ferroel | |||
| 3．规格：1m*1m*1m | |||
| 4．设备简介、主要性能指标： 设备简介：铁电仪可广泛地应用于如各种铁电/压电/热释电薄膜、厚膜、体材料和电子陶瓷、铁电传感器/执行器/存储器等领域的研究。 主要性能指标：电压范围：+/-25V（可扩展至+/-10KV）；输出电流峰值：+/-1A；最大负荷电容：1μF；动态电滞回线测试频率：0.001Hz～5KHz，疲劳测试频率最高可达20MHz；铁电材料漏电流的测试：10pA～100mA；电流放大范围：10pA～1A；极化测试精确到10fC。 | |||
| 5．现有功能与服务范围： 格材料自漏电特、在薄膜上施加阶跃电压时的电流响应；铁电材料的电滞回线(动态与静态)、漏电流、压电等特性；测量小信号材料的压电系数与介电常数；可与原子力显微镜联用，对微区或Nanoscale的铁电、压电性能进行测试。 | |||
| 6.校编码 | 20120724 | 7．分 类 号 | 03190463 |
| 8．国别 | 美国 | 9．设备造号 | |
| 10．购置日期 | 201207 | 11．金额（元） | 人民币：432000 |
| 美元： | |||
| 12．年使用机时 | 1000 | 13．可供开放机时数 | 1000 |
| 14．使用收费标准 | 校内 | 100元／小时 | |
| 校外 | 200 元／小时 | ||
| 15．设备管理人：王显威联系方式：15836112697 | |||
| 16．设备制造及供应商：美国QUATEK INC | |||
| 17．设备存放地点（楼栋及房号）：物理南楼127房间 | |||
| 18．主要附件：显微镜，变温（-180-300℃）样品（块材和薄膜）测试台，计算机1台。 | |||