5月19日上午，应数学与信息科学学院邀请，北京理工大学数学与统计学院博士生导师田玉斌教授在数学楼S103作了一场题为“可靠性特征量的相关变点问题研究”的学术报告。学院青年教师与研究生代表30余人聆听了报告。田玉斌指出，指数分布是可靠性研究领域的重要分布，常用来描述产品的寿命。田玉斌从我国星载电子器件的可靠性问题研究的背景出发，报告了模型选择方法和经验似然比方法在指数分布随机变量序列参数、失效率函数和变异系数的变点检验问题中的应用，以及相关统计量的渐近分布，以及将该成果应用于我国天宫系列MOS管的数据分析的情况。报告会后，田玉斌结合讲座内容与师生进行了热烈的交流。专家简介：田玉斌，中国现场统计研究会常务理事，中国现场统计研究会试验设计分会常务理事，长期从事敏感性试验设计方向的研究（敏感性试验设计已被列为国家自然科学基金委试验设计领域的子方向），给出若干高效的序贯试验设计方法，具有国际先进水平；曾在2016全国试验设计及其应用研讨会上作大会报告，6次应邀在国际会议上作邀请报告，作为国际会议主席主持国际会议2次；发表SCI论文20余篇，其中一篇论文提出的试验设计方法成为2014年全美联合统计
2018-05-23
